测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:05-02 2023 来自:祥宇精密
二次元测量仪又叫影像测量仪或者视频检测仪,适用于以二维尺寸测量为目的一切应用领域,在机械,手机电子,仪表,塑胶等行业广泛使用;主要功能是用于测量点,线,圆,弧,角度、直径、半径、点到线或线到线的距离、两圆的偏心、两点间距等;
随着科技发展,对各种工件和零件的测量精度越来越高,对二次元测量仪的要求也是越来越苛刻,二次元测量仪是对传统的测量技术的飞跃性发展,是将传统的光学投影和计算机完美结合的产物。二次元影像测量仪是当今工业检测与计量技术领域中的一个新名词,它代表的是数字化科技溶入工业检测与计量,进行空间几何运算的先进测量技术。
它能快速读取光栅尺的位移数值,通过建立在空间几何基础上的软件模块运算,瞬间得出所要的结果;并在屏幕上产生图形,供操作员进行图影对照,从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。
祥兴仪器二次元测量仪主要特点
采用“HIWIN”P级直线导轨和精密V型滚珠导轨,保证机器精度及使用寿命。
立柱和底座采用坚实的花岗岩结构、稳定可靠。
配备多功能2.5D测量软件,自动寻边,影像测高。
配备可移动可拆卸的仪器专用桌。
高清卡位变倍镜头和高分辩率CCD,实现产品高清晰度测量。
测量结果可输出Word 、Excel、CAD等格式。
可导入DXF文件进行快速检测。
XVM-F2.5次元测量仪系列技术参数
型号 XVM-2010FXVM-3020F XVM-4030F
测量范围(mm)200x100x200 300x200x200 400x300x200
外型尺寸(mm)750*1300*1500mm750*1300*1500mm900*1400*1500mm
重量(kg)160 170250
承重(kg) 20 2525
备注:客户可根据自身产品需求选配英国Renishaw MCP探针接触式测高功能
测量精度(μm): 3+L/200
重复精度(mm):0.003
测量方式:光学非接触式影像测量
光栅尺: 1.0μm分辩率开放式玻璃光栅尺
图像传感器CCD: HC536 1/3英寸600线工业彩色相机
导轨: Z轴:“HIWIN”P级直线导轨X、 Y轴:精密V型导轨
光学系统: 6.5:1连续变倍卡位镜筒
放大倍率: 光学放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X
400-801-9255