测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:06-01 2023 来自:祥宇精密
在测量领域,图像拼接技术在很多场合都得到了广泛应用。但是,在实际应用中,自动快速图像拼接测量仪的效率和精度问题一直是热点和难点。如何提高图像拼接的精度和效率是一个很重要的问题。
一、 基本原理
在自动快速图像拼接测量仪中,图像拼接的基本原理是将多张部分重叠的图片拼接成一张完整的图像。就是将多幅图片的特征点进行匹配,然后根据匹配的结果进行图像融合。常用的图像拼接算法包括 SIFT 算法、SURF 算法、ORB 算法等。
然而,在实际应用中,这些算法都存在一定的缺陷。比如,SIFT 算法对光照变化敏感,SURF 算法虽然可以提高计算速度,但在复杂背景下容易出现误匹配。为了解决这些问题,我们团队尝试了多种算法,并选择了基于深度学习的图像拼接算法。
二、 拼接算法
基于深度学习的图像拼接算法是近年来新兴的一种算法,它利用卷积神经网络进行特征提取和图像匹配,能够有效地提高图像拼接的精度和效率。
该算法首先将待拼接的图像输入到卷积神经网络中进行特征提取,然后通过特征匹配得到图像间的对应关系,最后根据对应关系进行图像融合。与传统算法相比,该算法不需要手动调参,且具有更快的运算速度和更高的准确率。
而祥宇精密主要产品有:三坐标测量机,自动全自动影像仪,三维影像复合式测量仪,2.5次元测量仪,二次元测量仪,TESA高度仪,三丰精密量仪,工业测量投影仪,工具显微镜,盐雾试验箱,金属硬度计,铅笔划痕测试仪,线材测试仪,耐磨擦试验机,恒温恒湿机,手机按键试验机,ROHS有害物质分析仪等。
在自动快速图像拼接测量仪中的,我们也意识到,该算法在实际应用中还存在一些问题,比如对计算资源的要求较高,对数据的质量要求也较高。所以呢,在进一步的研究中,将进一步优化这个算法,使其更加适用于不同场景,并且更加稳定和可靠。针对自动快速图像拼接测量仪的精度和效率问题,基于深度学习的图像拼接算法是一种有效的解决方案。可以通过这种算法来提高图像拼接的精度和速度,从而为实际应用带来更多的便利和效益。
400-801-9255