测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:06-05 2023 来自:祥宇精密
使用的测长仪如果没有经过校准和验证,测量出来的结果就可能会出现误差。在使用测长仪之前,我们需要对其进行校准和验证,并且在调整后确认其精度。
一、测长仪的校准与验证
1. 校准
校准是指将测长仪与已知长度进行比对,以确定其是否准确。校准可以分为内部校准和外部校准两种。
内部校准是指通过调节测长仪上的调节装置来保证其读数准确。外部校准则需要使用一些标准测量工具,如千分尺、游标卡尺等,将这些标准工具的测量值与测长仪的测量值进行比较,从而确定测长仪的准确性。
2. 验证
验证是指在校准后使用测长仪进行一系列测量,以确定其准确性。在验证时,应该选择一些标准工件进行测量,比较测长仪的测量值与实际值之间的偏差,从而确定测长仪的精度。
二、调整后的确认精度
在进行校准和验证后,如果发现测长仪存在误差,就需要对其进行调整。调整时应该注意以下几点:
1. 调整前应该确定校准误差,并将其记录下来。
2. 调整时应该按照厂家的要求进行操作。
3. 调整后应该再次进行验证,以确定测长仪是否已经达到了精度要求。
如果经过调整后的测长仪的测量精度符合要求,可以将其投入使用。但是,在使用过程中还需要注意以下几点:
1. 长时间使用后,可能会出现读数偏差,需要定期进行校准和验证。
2. 在使用前应该检查测长仪是否损坏或者变形,如果有需要及时更换。
3. 使用测长仪时应该避免碰撞和震动,以免影响测量精度。
参考文献:
1. 李铁柱,测量学基础,北京:高等教育出版社,2010。
2. 朱建华,工程测量学,北京:机械工业出版社,2008。
3. GB/T 12673.1-1990,长度测量标准器 第1部分:游标卡尺,国家标准化管理委员会,1990。
4. GB/T 14899-2010,长度测量标准器 标准硬度块,国家标准化管理委员会,2010。
400-801-9255