测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
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0.1um
测量精度
重复精度
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News时间：06-07 2023 来自：祥宇精密
随着工业生产的不断发展，对于工件尺寸、形状和位置等参数的精度要求越来越高。在这种背景下，测量工具得到了广泛的应用，具有较高的测量精度和稳定性，被广泛应用于工业生产中。本文将从测长仪的原理、测量方法以及应用前景等方面对测长仪进行探讨，以期能够更好地利用测长仪对工件参数进行全面检测和测试。如何利用测长仪对工件尺寸、形状和位置等参数进行全面检测和测试？
一、测长仪的原理
测长仪是一种通过测量物体长度实现测量的仪器。它通常由感应头、显示器、微处理器和控制电路等组成。测长仪的测量原理主要有光学式、机械式、电子式和超声式等多种类型。其中，电子式测长仪由于其精度高、速度快、易于操作等优点而受到广泛关注。
二、测长仪的测量方法
在使用测长仪进行测量时，首先需要根据被测物体的形状和尺寸选择相应的探头。然后将探头与被测物体接触，并通过显示器读取测量结果。一般情况下，测长仪可采用绝对式和相对式两种测量方法。
绝对式测量法是指将探头放到被测物体上时，测长仪自动将零点归零，然后再进行测量。这种方法适用于单次测量较少的情况。
相对式测量法是指在每次测量前需要手动将工具的零点调整到刻度盘的零位，使其能够准确测量。这种方法可以实现多次测量，并且保证测量精度。
参考文献：
[1] 李凯. 测长仪在精密检测中的应用[J]. 精密制造技术,2013(4):1-3.
[2] 张永辉. 数字测量技术及其发展趋势[J]. 机械设计与制造,2014(5):107-109.
[3] 王永刚. 测长仪在光学加工中的应用[J]. 光学仪器,
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