测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:11-12 2024 来自:祥宇精密
光栅计数尺的误差
首先,光栅计数尺是二次元影像仪的核心部件之一,它的精度直接影响到整个测量系统的精度。光栅计数尺的误差主要来源于其制造过程中的不完美,以及使用过程中的磨损和老化。这些因素都会导致光栅计数尺的实际读数与其理论值之间存在一定的偏差。
其次,工作台的移动精度也是影响测量结果的重要因素。理想情况下,工作台应该沿着一条完全直线的路径移动,但实际上,由于机械结构的不完美,工作台在移动过程中可能会出现直线度和角摆度的问题。这些问题会导致工作台的实际移动路径与其理论路径之间存在偏差,从而影响测量结果。
再者,工作台的两个测量轴之间的垂直度也是一个重要的误差来源。如果两个测量轴之间不完全垂直,那么在进行测量时,测量结果就会出现偏差。这种情况在实际使用中并不少见,因此需要定期检查和校准。
显微镜光轴与工作台面的不垂直也会导致测量误差。理想情况下,显微镜的光轴应该与工作台面完全垂直,但在实际使用中,由于机械结构的不完美和使用过程中的磨损,显微镜的光轴可能会出现轻微的倾斜。这种倾斜会导致测量结果的偏差,特别是在进行高精度测量时,这种偏差可能会变得非常明显。
温度变化是另一个重要的误差来源。大多数二次元影像仪在设计时都会假设测量是在一个恒定的温度下进行的,但实际上,测量室的温度可能会有所波动。这些温度波动会导致材料的膨胀和收缩,从而影响测量精度。因此,为了保证测量结果的准确性,通常需要在测量前对测量室进行温度校准。
光源照明条件的变化也会影响测量结果。理想的光源应该能够提供均匀、稳定的照明,但在实际使用中,光源的亮度可能会有所波动,这会影响到被测工件的照明效果和影像质量。此外,光源的位置和角度也可能会影响测量结果,因此需要定期检查和调整。
摄像机是二次元影像仪的另一个核心部件,它负责捕捉被测工件的影像。摄像机产生的误差主要包括光学误差、机械误差和电学误差等。这些误差会直接影响测量系统的精度,因此需要定期校准和维护。
在检测过程中,固定图像噪音也会影响测量结果。这些噪音可能是由摄像机本身、光源、机械振动等多种因素引起的。虽然这些噪音可以通过一定的技术手段进行分离和清除,但它们仍然会对测量结果产生一定的影响。
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