测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:02-28 2025 来自:祥宇精密
影像测量是一种利用光学系统和图像传感器,将被测物体的图像捕捉并转换为数字信号,再通过计算机软件进行处理和分析,从而获得物体的形状、尺寸、位置等信息的技术。影像测量技术广泛应用于制造业、医疗、科学研究等领域,可以提高生产效率和质量,也可以辅助科学研究和实验。
CCD是一种半导体器件,能够将光学影像转化为数字信号。它由一系列的电荷耦合元件组成,可以对光信号进行高效、高精度的采集和处理。当光信号照射到CCD传感器上时,光子会激发光敏元件中的电子,形成电荷。这些电荷会在电荷耦合元件之间传输,最终被转换为电信号。
在影像测量中,CCD传感器是核心部件之一。它通过光学系统的聚焦和成像,将被测物体的图像捕捉并转换为电信号。通过对这些电信号的处理和分析,可以获得被测物体的形状、尺寸、位置等信息。CCD传感器可以将被测物体的图像分成一系列的像素,每个像素对应一个电荷耦合元件。当光信号照射到CCD传感器上时,光子会激发光敏元件中的电子,形成电荷。这些电荷会在电荷耦合元件之间传输,最终被转换为电信号。
虽然CCD在影像测量中扮演着重要角色,但影像测量并不等同于CCD。影像测量是一个综合性的技术体系,除了CCD传感器外,还包括光学系统、信号处理、数据分析等多个环节。光学系统负责将被测物体的图像聚焦到CCD传感器上;信号处理环节对CCD传感器采集到的电信号进行增益调节、噪声滤波、图像增强等操作;数据分析环节则通过计算机软件对图像进行进一步的处理和分析,以获得被测物体的形状、尺寸、位置等信息。
除了CCD传感器外,影像测量技术还可以使用其他类型的传感器,如CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,互补金属氧化物半导体)传感器。CMOS传感器与CCD传感器相比,具有功耗低、速度快、集成度高等优点。近年来,随着CMOS传感器技术的不断进步,越来越多的影像测量设备开始采用CMOS传感器。
影像测量技术广泛应用于制造业、医疗、科学研究等领域。在制造业中,影像测量技术可以用于检测产品的尺寸、形状、位置等参数,确保产品质量。在医疗领域,影像测量技术可以用于检测人体组织的形状、大小、位置等信息,辅助医生进行诊断和治疗。在科学研究中,影像测量技术可以用于测量物体的几何参数,辅助研究人员进行实验和研究。
随着科技的不断进步,影像测量技术也在不断发展。未来,影像测量技术将朝着高精度、高速度、高集成度的方向发展。高精度的影像测量技术可以满足对微小物体的测量需求;高速度的影像测量技术可以满足对动态物体的测量需求;高集成度的影像测量技术可以将光学系统、传感器、信号处理、数据分析等功能集成在一个设备中,提高测量效率和精度。
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