测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:12-11 2023 来自:祥宇精密
一、影像测量仪的工作原理
影像测量仪是一种基于光学原理的测量设备,它通过将被测物体放在光学平台上,利用高精度的测量系统和计算机技术,对物体的尺寸、形状、位置等进行测量。影像测量仪的核心部件是光学平台和测量系统。光学平台可以放置被测物体,并通过光源将物体的图像投射到测量系统上。测量系统则由一系列高精度的光学元件组成,包括摄像头、显微镜、光栅等,可以对图像进行高精度的测量和分析。
二、影像测量仪的优缺点
(1)高精度:影像测量仪的测量精度非常高,可以达到微米级别,甚至更高。这使得它可以准确地检测出产品中的微小缺陷,如尺寸偏差、形状变形等。
(2)非接触式测量:影像测量仪采用非接触式测量方式,不需要直接接触被测物体,因此不会对物体造成损伤,也不会影响物体的表面质量。
(3)快速测量:影像测量仪的测量速度非常快,可以在短时间内对大量产品进行测量。这使得它在生产线上可以快速、准确地检测出缺陷产品,提高生产效率。
(4)可重复性好:影像测量仪的测量结果具有很好的可重复性,这意味着同一件产品在不同时间、不同人员操作下,测量结果都基本一致。
(1)对操作人员要求较高:影像测量仪的操作需要专业人员进行,操作人员需要具备一定的技能和经验。否则可能会出现误差较大的测量结果。
(2)价格较高:影像测量仪的价格较高,一般中小型企业可能无法承受。此外,它还需要定期维护和保养,这也会增加使用成本。
三、影像测量仪在缺陷检测中的应用
尺寸检测:影像测量仪可以对产品的尺寸进行高精度测量,包括长度、宽度、高度等。通过对产品尺寸的检测,可以判断产品是否符合设计要求,是否存在尺寸偏差等问题。
形状检测:影像测量仪可以对产品的形状进行检测,包括平面度、直线度、圆度等。通过对产品形状的检测,可以判断产品是否符合设计要求,是否存在形状变形等问题。
表面质量检测:影像测量仪可以通过对产品表面的反射光强弱、反射光的均匀性等进行分析,检测出产品表面的质量缺陷。例如,表面粗糙度、划痕、颗粒等。
结构完整性检测:影像测量仪可以对产品的内部结构进行检测,例如检测产品的内部是否存在裂纹、孔洞等缺陷。这种检测方式一般需要使用专门的探头和软件进行辅助。
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